NIKON 尼康 AX / AX R with NSPARC 共聚焦显微镜
燃起共聚焦成像新潜能
最新研发的尼康空间阵列共聚焦（NSPARC: Nikon Spatial Array Confocal）探测器，可这一阵列型检测器可收集每个扫描点上的二维图像。其通过全新水准的超低噪声高灵敏度空间探测能力进一步扩展了共聚焦成像潜能，使分辨率超越1个艾里单位/~230nm*，并提高了图像信噪比。
尼康AX系列带来崭新共聚焦成像解决方案。
*横向光学分辨率使用阿贝衍射极限定义（0.61l / NA）
规格
| AX-SHS 检流计扫描 | AX-SHR 检流计+共振扫描 |
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| 扫描头 | 检流计扫描视野: 25mm 最大扫描分辨率：8192 x 8192 扫描速度：10fps @512 x 512像素；240fps @512x16像素 最长驻留时间：0.2ms 图像旋转：±180° 支持线扫描、双向扫描和平均（线平均和滚动平均） | 检流计扫描视野：25mm 共振扫描视野：25mm 扫描速度：7.5fps @2048 x 2048像素；15fps @2048x1024像素；30fps @2048x512像素；720 fps @2048 x 16像素 *1 支持线扫描、双向扫描和平均（线平均和滚动平均） 实时Denoise.ai降噪功能 |
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| 扫描头输入/输出端口 | 标准：一个激光输入端口和一个激光输出端口；FC连接 可选：一个可见光或近红外激光输入端口，可增加一个激光输出端口；FC连接 |
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| 针孔 | 六边形，连续可调，最小针孔：6μm |
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| FOV 视野 | 25mm（1x变倍） |
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| 扫描变倍 | 1-1000x |
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| 激光 | 多达8个可见光/近红外激光器 兼容激光器：（标准）405 nm至750 nm，（可选）730 nm或785 nm用于近红外成像选购件 |
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| 探测器 DUX-VB | 2或4通道（增加近红外成像选购件时为4通道） 可自由调节带宽，精度为±1 nm，多达66条离散光谱通道
多达12个带通滤色片
可选择MA-PMT或GaAsP PMT（对于近红外成像组件，请选择Ex Red GaAsP PMT用于730 nm激发，或GaAs PMT用于785 nm激发） |
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| 探测器 DUX-ST | 2 / 4通道 可选MA-PMT或 GaAsP-PMT |
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| NSPARC探测器 | 横向分辨率100 nm*2，轴向分辨率300 nm*2
配备SPPC（单像素光子计数器）阵列探测器
最多可安装7个发射滤光片（支持 405、445、488、514、561、594 和 640 nm 波长激发）
使用检流计扫描：可选择 X 轴分辨率 64 至 8192 像素、Y 轴分辨率 2 至 8192 像素
使用共振扫描：可选择 X 轴分辨率 256、512、1024 和 2048 像素、Y 轴分辨率 128 至 2048 像素 |
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| 透射探测器 | MA-PMT探测器 |
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| 超分辨率模块 | 支持同时四通道超分辨率成像；分辨率：XY方向120nm，Z方向300nm |
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| Z轴步进 | Ti2-E: 0.01 μm, 0.02 μm (编码器), FN1步进电机: 0.05 μm, Ni-E: 0.025 μm Piezo Z步进: 最小1.5nm |
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| 兼容显微镜 | Ti2-E倒置显微镜最大 FOV 25 mm Ni-E 及FN1 正置显微镜最大FOV 25 mm |
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| 选配 | 光刺激（点扫描或DMD） FLIM荧光寿命成像（含高速FLIM） 压电陶瓷Z轴（或XYZ三维） 各类培养装置及笼式工作环境 其他模块如TIRF，N-STORM 或 N-SIM S |
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| 软件 | NIS-Elements C或NIS-Elements C-ER成像软件 |
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| 工作站 | Microsoft Windows® 10 64bit/11 专业版 配备 GPU 加速卡 |
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| 推荐安装环境 | 温度23±5˚C，相对湿度≤70%（无冷凝） |
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*1 选配1K模块时：15fps @1024x1024像素；30fps @1024x512像素；720 fps @1024 x 16像素
*2 此参数在488 nm激光激发下，使用40 nm直径荧光小球测量横向分辨率，及使用100 nm直径荧光小球测量轴向分辨率。实际分辨率取决于激光波长和光学配置。
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