NIKON      尼康      CFI S Plan Fluor ELWD ADM 40XC     显微镜物镜
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NIKON 尼康 CFI S Plan Fluor ELWD ADM 40XC 显微镜物镜

NIKON 尼康 CFI S Plan Fluor ELWD ADM 40XC 显微镜物镜

NIKON      尼康      CFI S Plan Fluor ELWD ADM 40XC     显微镜物镜

材料编号MRH48430
类型Super Plan Fluor
基本观察方法切趾相差
浸液Air
长工作距离40X
数值孔径0.6
工作距离3.6–2.8
盖玻片厚度0–2

CFI S Plan Fluor
ELWD ADM 40XC

(mm)
图形

CFI S Plan Fluor
ELWD ADM 40XC
明场适当
暗场通用聚光器(干式)和暗场环,暗场聚光器(干/油)
微分干涉 
荧光(可见)适当
荧光(紫外线)适当
荧光(近红外) 
偏振 
偏光型
相差环◎PH2
相差类型ADM

CFI S Plan Fluor
ELWD ADM 40XC
校正环
弹簧缓冲型
光阑 
长工作距离
Ti2-E PFS兼容

CFI S Plan Fluor
ELWD ADM 40XC
石棉 
透明化组织 
临床/实验室 
共聚焦 
教学 
激光捕获/光镊 
多光子 
SIM 
STORM 
研究
TIRF 
组织培养

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