PUZHE       蒲柘     XJ-51DIC    科研级微分干涉显微镜
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产品概述

科研级微分干涉金相显微镜XJ-51DIC适用于金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数:50-800X
◆产品特点:
1、采用了无限远光路设计。
2、采用大视野目镜和无限远长距平场物镜,视场平坦,成像清晰。
3、整机采用了防霉处理,保护了镜头,延长了仪器的使用寿命。
4、两路光路自由切换输出,一路用于观察,一路连接摄像装置。
◆典型应用:
1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验,
2、TFT液晶显示屏导电粒子, 3、分析金属、矿相内部结构组织。

规格参数

一、显微镜参数:

序号名称技术参数
01平场目镜WF10X/Φ22mm
02平场物镜无限远长距PLL 5X/0.10DIC、10X/0.25DIC、20X/0.40DIC、40X/0.60、80X/0.75
03总放大倍数50X-800X
04观察头双目,铰链式45°倾斜
05转换器五孔(内向式滚珠内定位)
06粗调调焦范围粗微动同轴调焦,带锁紧装置,微动格值:2μm
07载物台机械移动载物台,外形尺寸:242mmX200mm,移动范围30mmX30mm
圆形可旋转载物台板尺寸:最大外径Ф130mm,最小通光口径小于Ф12mm
08光瞳距离53-75mm
09滤色片磨砂玻璃、黄、绿、蓝滤色片
10照明装置12V50W卤素灯,亮度可调内置视场光阑、孔径光阑
11偏光装置拉板式起偏器,检偏器  微分干涉相衬插板适用于5X.10,20X DIC 物镜
12仪器重量净重7.0kg 毛重8.5kg
13仪器尺寸仪器尺寸18X25X33(cm) 包装尺寸42X35X52(cm)


二、目镜参数:

型号
T ype
放大倍率
Magnification
视场直径(mm)
F.O.V
外径(mm)
Tube diameter
WF10X/2210XΦ22Φ30.0


三、物镜参数:

放大倍率 Magnification数值孔径 N.A分辨率 R(μm)工作距离WD(mm)共轭距离Conjugate(mm)齐焦距离Parfocus(mm)盖玻片厚度CoverGlass(mm)
5XDIC0.122.5518.245
10XDIC0.251.1020.245
20XDIC0.400.706.0045
40X0.600.553.9845
80X0.800.421.2545

手机/微信:13242449659电话:0755-89355351 QQ:842471885 邮箱:842471885@qq.com

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