HAMAMATSU    滨松     C15993-01     ODPL 测量系统
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HAMAMATSU 滨松 C15993-01 ODPL 测量系统

HAMAMATSU 滨松 C15993-01 ODPL 测量系统
ODPL 测量系统使用积分球来测量全向光致发光光谱并确定样品的发射效率。此过程是非破坏性和无接触的,可以立即计算 IQE(内部量子效率)。IQE 是 GaN 单晶体质量评估所必需的,GaN 单晶体作为功率器件材料受到瞩目。对钙钛矿晶体的质量评估也有必要,预计这些元素有助于提高太阳能发电和 LED 的效率。 *ODPL:全向光致发光

HAMAMATSU    滨松     C15993-01     ODPL 测量系统

详细参数

型号C15993-01
PL 测量波长范围300 nm 至 950 nm
多通道光谱仪光电探测器BT-CCD 线阵图像传感器
测量波长范围200 nm 至 950 nm
波长分辨率≤ 2 nm
光敏设备通道数1024 通道
设备冷却温度-15 ℃
AD 分辨率16 位
光谱仪光路布置Czerny-Turner 型
积分球材料Spectralon
尺寸3.3 英寸
样品架尺寸基板(6 mm × 6 mm × 1 mm 至 17 mm × 17 mm × 1 mm)
可以安装 A10095-01 或 A10095-03。
落射部件照射光源白光 LED
观察相机彩色 CMOS 相机
视野尺寸约 φ6 mm
软件测量/分析项目EQE 测量
IQE 计算
吸收比测量
PL 光谱测量
尺寸/重量725 mm (W) × 417 mm (H) × 380 mm (D) / 约 39.5 kg


*C15993 中不包括激发激光器。请联系我们了解详情。


尺寸

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