EVIDENT 奥林巴斯 CIX100 清洁度检测系统
在每种制造过程中,必须尽可能降低颗粒污染,以便产品功能不受影响。部件清洁度至关重要,必须进行测量和评估。凭借Evident专业清洁度检测系统解决方案系列产品,您可以获取、处理、分析和记录技术部件清洁度检测数据,持续满足高清洁度标准。
在从开发到质量控制的整个过程中,Evident清洁度检测系统都能发挥出检测准确的性能,从而可大幅提高生产率。我们的清洁度检测系统旨在满足部件清洁度标准,并提供直观的软件来指导您完成检测过程的各个步骤。因此,无论您是专家还是新手,都可以快速、轻松、高效地获取清洁度数据。
CIX100检测系统是一个专门的交钥匙解决方案,适用于那些要求对所制造部件清洁度保持高质量标准的制造商。快速获取、处理和记录技术清洁度检测数据,以符合公司和国际标准的要求。系统直观的软件可指导用户完成检测过程的每个步骤,因此,即使是初涉行业的操作员,也可以快速轻松地采集清洁度数据。
硬件
显微镜 | CIX100 | 电动聚焦 | - 同轴电动精细聚焦,使用3轴操纵杆
- 聚焦行程:25 mm
- 精细行程:100 µm/转
- 载物台托架的最大安装高度:40 mm
- 聚焦速度:200 µm/s
- 可启用软件自动聚焦功能
- 可自行定制的多点聚焦图
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照明 | - 内置LED照明
- 创新型照明机制,可同时探测到反光颗粒和非反光颗粒
- 光照强度可由软件控制
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成像设备 | - 彩色CMOS USB 3.0相机
- 芯片上的像素尺寸为2.2 µm × 2.2 µm
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样品大小 | - 标准样品为直径47毫米的滤膜;可提供滤膜直径为25毫米或55毫米的滤膜托架或定制样品托架
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物镜转盘 | 电动式 | 电动物镜转盘 | - 6孔电动物镜转盘,已预先安装了3个UIS2物镜
- PLAPON 1.25X,用于预览
- MPLFLN 5X,用于探测大于10 µm的颗粒
- MPLFLN 10X,用于探测大于2.5 µm的颗粒
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由软件控制 | - 图像放大倍率和像素与尺寸之间的关系随时可知
- 在测量过程中的所选步骤中使用选定的物镜,且物镜可自动定位
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载物台 | 电动X、Y轴载物台 | 电动X、Y轴载物台 | - 步进电机控制运动
- 最大范围:130 × 79 mm
- 最大移动速度:240 mm/s(4 mm滚珠螺距)
- 可重复性:< 1 µm
- 分辨率:0.01 µm
- 可通过3轴操纵杆控制
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由软件控制 | - 扫描速度取决于所使用的物镜倍率,使用10x物镜时,扫描时间不到10分钟
- 载物台对齐校准由工厂在装配时完成。
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样品托架 | 样品托架 | - 滤膜托架经过专门设计,可避免在安装过程中滤膜发生意外转动
- 滤膜托架通过机械方式将滤膜压平
- 无需工具即可固定盖子
- 用于直径为25毫米、47毫米和55毫米的滤膜的样品托架
- 用于颗粒捕集器、颗粒捕集器耗材和胶带提取法采样的样品托架
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颗粒物标准片(PSD) | - 用于验证系统测量准确性的参考样品
- 核查系统内置功能的样品,用于对CIX系统的正常功能进行控制
- 颗粒物标准片(PSD)只能使用载物台上的第2个插槽
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载物台插槽 | 2位载物台插槽 | |
控制器 | 工作站 | 高性能预安装工作站 | - HP Z4G4,Windows 10,64位Professional(专业版)(英文版)
- 16 GB RAM,256 GB SSD和4 TB数据存储
- 2 GB视频适配器
- 已安装Microsoft Office 2019(英文版)
- 网络功能、标准英文键盘、1000 dpi的光电鼠标
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插件板 | |
语言选择 | - 操作系统和Microsoft Office的默认语言可由用户更改
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触摸显示屏 | 23英寸纤薄屏幕 | - 分辨率:11920 × 1080,为配合CIX软件使用而优化
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电源 | 额定值 | - AC适配器(2个),用于控制器和显微镜架(需要4个插头)
- 输入:100-240 V AC,50/60Hz,10 A
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功耗 | - 控制器:700 W;显示器:56 W;显微镜:5.8 W;控制箱:7.4 W
- 总计:769.2 W
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图纸 | 尺寸(宽 × 厚 × 高) | 约1300 mm × 800 mm × 510 mm |
重量 | 44 kg |
系统对环境的要求
常规使用 | 温度 | 10 °C ~ 35 °C |
湿度 | 30% ~ 80% |
根据安全法规 | 环境 | 室内使用 |
温度 | 5 ℃至40 ℃ |
湿度 | - 最大80%(温度不高于31 °C时)
(无冷凝) - 当温度上升到31 °C以上时,适用的湿度会呈线性下降
- 70%(34 °C)至60%(37 °C),再至50%(40 °C)
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海拔高度 | 最高2000米 |
水平度 | 最高为±2° |
电源和电压稳定性 | ±10% |
污染等级(IEC60664) | 2 |
总体电压类别(IEC60664) | II类 |
软件
软件 | CIX-ASW-V1.6 | |
语言 | 图形用户界面 | - 图形用户界面:英语、法语、德语、西班牙语、日语、简体中文和韩语
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在线帮助 | - 在线帮助:英语、法语、德语、西班牙语、日语、简体中文和韩语
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许可证管理 | |
用户管理 | - 系统可以连接到网络进行域管理
- 可用功能范围根据经过身份验证的用户而选择。
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实时图像 | 以彩色模式显示 | |
窗口适应法 | |
实时探测 | - 颗粒一经捕获就会被探测出来,提高了检测速度
- 如果测量结果不理想,用户可以中止检测过程
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实时分类 | - 探测到颗粒后,立即对颗粒进行分类
- 在实时采集过程中,可在用户界面上识别颗粒所属的大小等级
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显微镜模式 | - 可以进入显微镜模式进行显微成像
- 提供可选配的材料分析解决方案(不是标配)
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图像捕获和手动测量 | 收集用户快照 | - 不仅可在实时观察模式下(从实时图像)或样品查看模式下(从记录的数据)捕获图像,也可以在复核模式下,捕获样品上任何位置的单个图像
- 可使用1000 × 1000像素的标准分辨率,将图像存储为.tif、.jpg或.png文件
- 快照可以与探测到的颗粒相关联,并在之后的分析报告中使用
- 颗粒快照可以在景深扩展成像(EFI)模式下自动获取
- 在EFI模式下获取的图像可用在分析报告中
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手动测量 | - 可以在获得的快照上对任意距离进行测量
- 可为任意测量项目重新命名,并可以进行重新着色
- 任意测量值和刻度线在存储时都会被保存在图像中
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硬件控制 | XY电动载物台 | - 操纵杆操作和由软件控制
- 检测圆形和矩形的样品区域
- 在所选颗粒上以自动或手动方式重新定位
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电动物镜转盘 | |
电动聚焦 | - 通过操纵杆控制
- 提供软件自动聚焦功能
- 使用多点聚焦图进行预测性自动对焦
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检查系统 | 系统验证 | - 通过测量颗粒物标准片的参数对系统进行验证
- 生成OK(合格)或NOK(不合格)的质量判定结果
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可选物镜 | - 对系统的检查只能使用工作物镜完成(至少应选择一个物镜)
- 可以使用5X或10X物镜,或使用这两种物镜对系统进行检查
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技术清洁度标准 | 支持的标准 | - ASTM E1216-11:2016、ISO 4406:2021、ISO 4407:1999、ISO 4407:2002 [累积和差分]、ISO 11218:2017、ISO 12345:2013、ISO 14952:2003、ISO 16232-10:2007(A、N和V)、ISO 16232:2018(A、N和V)、ISO 21018:2008、DIN 51455:2020 [70%和85%]、NAS 1638:1964、NF E 48-651:1986、NF E 48-655:1989、SAE AS4059:2020、VDA 19.1:2015(A、N和V)、VDA 19.2:2015、VDI 2083-21
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精确符合VDA19:2016的建议 | |
颗粒种类识别 | - 颗粒可按颗粒种类分类(纤维、反光、反光纤维或其他)
- 有可能根据人工智能(AI)对探测到的颗粒进行分类
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自定义标准 | - 用户可以非常容易地自行定义标准
- 根据DT 55-83,颗粒测量参数包括丝状粒径和致密粒径
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检测配置 | - 该系统可使用户加载、定义、复制、重命名、删除和保存检测配置
- 还可以存储和调用标准和报告模板
- 可以反转探测阈值,以探测到暗背景上的亮颗粒
- 可以在一个序列中采集多个样品
- 可以为单个颗粒类型设置批准限值
- 可以为不同颗粒类型扩展污染等级代码(CCC)
- 每个样品都可以使用特定的配置进行检测
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颗粒平铺视图 | 以平铺形式显示探测到的颗粒,提高了导航效率 | - 双击平铺视图可以检索每个颗粒的位置
- 每个平铺视窗都与实际颗粒大小相适应
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存储完整的滤膜 | 存储完整的滤膜 | |
数据导出 | 保存数据 | - 检测数据可被导出到Excel(.xlsx)表格中
- 软件中所有可用的表格也可以导出到Excel中
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趋势分析 | 多个样品的趋势分析(内置SQC工具) | - 可以按大小等级显示数据
- 可以按时间、样品和测量ID将数据绘制成图
- 可以选择比例(对数-正态,对数-对数)
- 数据点可被提取并导出到电子数据表格中
- 可以使用Q-DAS(.dfq)格式导出表格;软件中的所有表格也可以导出到Excel中
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颗粒编辑 | 可在修改过程中对颗粒进行编辑。 | 可进行以下操作:- 使用直线或折线添加、删除、合并或拆分颗粒
- 更改颗粒类型
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动态报告 | 可通过使用Microsoft Word 2019制作专业分析报告 | - 模板可自行定制
- 用户在选择不同的颗粒种类时,可以选择将图片放在表格后面,或者将所有图片放在一起
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可选配解决方案CIX-S-HM
高度测量 | 对选定颗粒进行自动或手动高度测量 | - 可选配的软件解决方案,可以使电动聚焦驱动功能对所选颗粒自上到下自动聚焦。然后通过计算颗粒在Z轴上顶部到底部的距离得出颗粒的高度。
- 包含1个附加物镜(20X MPLFLN)和一个需要在安装时激活的许可证卡片。
- 可以在多个位置选择多个颗粒进行自动高度测量。
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环境法律和法规
欧洲 | 低电压指令2014/35/EU |
EMC指令2014/30/EU |
RoHS指令2011/65/EU |
REACH法规,编号1907/2006 |
包装和包装废弃物指令94/62/EC |
WEEE指令2012/19/EU |
机械指令2006/42/EC |
美国 | UL 61010-1:2010,第3版 |
FCC 47 CFR,第15部分,分项B |
加拿大 | CAN/CSA-C22.2(No.61010-1-12) |
澳大利亚 | 1992年无线电通信法、1997年电信法 |
节能条例AS/NZS 4665-2005 |
日本 | 电器和材料安全法(PSE) |
韩国 | 电器安全控制法 |
关于能效标签和标准的条例 |
关于EMC和无线通信的条例(第2913-5号通知) |
中国 | 中国RoHS |
中国PL法 |
有关手册的条例 |
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