HAMAMATSU滨松

HAMAMATSU 滨松 C14631-01 PMA-12 光子多通道分析仪

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统,将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度,光谱在许多用途中都很容易获得,只需将光纤靠近样品,而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造,PMA-12 稳定可靠,可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准,因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C14631-01 是高灵敏度、性价比卓越的型号。(300 nm 至 800 nm)

HAMAMATSU 滨松 C10028-02 PMA-12 光子多通道分析仪

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统,将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度,光谱在许多用途中都很容易获得,只需将光纤靠近样品,而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造,PMA-12 稳定可靠,可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准,因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C10028-02 是近红外型号。(1600 nm 至 2350 nm)

HAMAMATSU 滨松 C10028-01 PMA-12 光子多通道分析仪

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统,将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度,光谱在许多用途中都很容易获得,只需将光纤靠近样品,而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造,PMA-12 稳定可靠,可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准,因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C10028-01 是近红外型号。(900 nm 至 1650 nm)

HAMAMATSU 滨松 C10027-02 PMA-12 光子多通道分析仪

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统,将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度,光谱在许多用途中都很容易获得,只需将光纤靠近样品,而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造,PMA-12 稳定可靠,可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准,因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C10027-02 是超高灵敏度型号。(350 nm 至 1100 nm)

HAMAMATSU 滨松 C10027-01 PMA-12 光子多通道分析仪

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统,将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度,光谱在许多用途中都很容易获得,只需将光纤靠近样品,而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造,PMA-12 稳定可靠,可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准,因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C10027-01 是超高灵敏度型号。(200 nm 至 950 nm)

HAMAMATSU 滨松 C14880-01 PMA-12 光子多通道分析仪

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统,将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度,光谱在许多用途中都很容易获得,只需将光纤靠近样品,而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造,PMA-12 稳定可靠,可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准,因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C14880-01 可实现低杂散光,并通过查看光学布局实现高精度光谱分析。通过使用带有内置制冷元件的传感器,可实现低噪声和高可再现性测量。

HAMAMATSU 滨松 C10506-05-16 iPHEMOS-DD 倒置光发射显微镜

倒置光发射显微镜是一种背面分析系统,旨在通过检测半导体器件缺陷发射的光和热来识别故障位置。 从背面检测信号便于在晶圆表面使用探测卡和探针卡,样品设置可以顺利进行。该平台可以安装多个探测器和激光器,能够选择最佳探测器,以执行各种分析方法,例如光发射和热生成分析、IR-OBIRCH 分析等;此外,通过测试仪连接,使动态分析能够高效执行。 ●iPHEMOS-DD 通过直接连接到 LSI 测试仪,可以减少由于连接电缆长度造成的信号延迟,并且可以对高速驱动样本进行分析。直接对接专用探针器可将多针指针连接到 300 mm 晶圆上,并且通过附加选件,可通过操作器执行封装分析和针指针连接。

HAMAMATSU 滨松 C15765-01 PHEMOS-X 微光显微镜

PHEMOS,能够适应未来 PHEMOS-X 是一款高分辨率微光显微镜,它能通过探测半导体器件缺陷导致发射的微弱光和热来定位失效位置。

HAMAMATSU 滨松 C10506-07-06 iPHEMOS-MPX 倒置光发射显微镜

iPHEMOS,能够适应未来 iPHEMOS-MPX 是一款高分辨率微光显微镜,它能通过探测半导体器件中缺陷导致发出的微弱光和热来定位失效位置。

HAMAMATSU 滨松 C16506-01 Dual PHEMOS-X 微光显微镜

可针对一个单元进行两侧故障分析 Dual PHEMOS-X 专为先进的 3D 非透明器件所设计,在这些器件中,可能需要在晶圆或芯片级的两侧(顶部和底部)同时进行光学故障分析。

HAMAMATSU 滨松 C15740-01 MiNY PL Micro LED PL 检查系统

MiNY PL 是一种使用光致发光 (PL) 测量方法的微型 LED 晶圆检查系统。

HAMAMATSU 滨松 C10346-01 多波段等离子加工监控器

多波段等离子加工监控器 C10346-01 是一个专门设计用于监测半导体的各种制造过程中产生的光学等离子体发射的系统,包括蚀刻、溅射、清洁和 CVD。该 MPM 可以实时处理多通道记录。

HAMAMATSU 滨松 L14471 光离子化发生器

L14471 光离子化发生器用于尽可能提高除静电性能。因此,它可以快速消除表面积较大的大型物体的静电,从而大幅提高制造过程中的生产率。L14471 还可有效消除高负荷或高速移动物体的静电。有两种类型的控制器可供选择:用于操作两个探头的 C14472 和用于操作四个探头的 C14546。

HAMAMATSU 滨松 L12645 光离子化发生器

光离子化发生器是一种新型静电消除器,使用"光离子化"技术来实现清洁、简单且有效的离子生成。与通常使用的电晕放电法相比,光离子化发生器具有很大的优势。

HAMAMATSU 滨松 L9873 光离子化发生器 光离子化发生器

L9873 光离子化发生器采用大多数生产线均支持的单型电源到仅 DC 24 V 电源,易于设置和使用。

HAMAMATSU 滨松 GA-107 LIGHTNINGCURE LC-L5G

GA-107 能够在一次批处理中照射大样本。 可替代 UV 烘箱,从而帮助降低运行成本。

HAMAMATSU 滨松 GC-77 LIGHTNINGCURE LC-L5G

GC-77 具有结构紧凑轻便的特点,采用风冷设计,可实现 UV-LED 光源难以达到的高输出。

HAMAMATSU 滨松 GC-77S LIGHTNINGCURE LC-L5G

GC-77S 的光线照射角度可与其安装表面垂直。 它可以安装在以前难以安装的位置,因为不需要垂直(高度)安装空间。

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