Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10178 是一种利用光谱干涉法的非接触式膜厚测量系统。通过光谱干涉法以高灵敏度和高精度快速测量薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪 PMA 作为探测器，可以测量量子产率、反射、透射/吸收和各种其他点，同时测量各种滤光片和涂层膜的厚度等。

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C13027 是一种利用光谱干涉法的非接触式膜厚测量系统。C13027 不仅支持 PLC 连接，而且比其他型号更紧凑，易于安装到设备中。我们的 Optical Gauge 系列能够测量低至 10 nm 的极薄薄膜的厚度，并覆盖从 10 nm 到 100 μm 的宽范围薄膜厚度。Optical Gauge 系列还可快速测量高达 200 Hz 的功率，因此是高速生产线测量的理想选择。

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C12562 是一款紧凑、节省空间的非接触式薄膜膜厚测量系统，可根据需要轻松安装在设备中。在半导体行业，因为硅穿孔技术的流行，硅厚度的测量至关重要；在薄膜生产行业，粘合层薄膜越来越薄，以满足产品规格。因此，这些行业现在需要更高的厚度测量精度，测量范围从 1 μm 到 300 μm。C12562 允许在 500 nm 至 300 μm 的宽厚度范围内进行精确测量，包括薄膜涂层和薄膜基板厚度以及总厚度。C12562 还提供高达 100 Hz 的快速测量，是高速生产线测量的理想选择。

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C15151-01 是一种利用光谱干涉法的非接触式膜厚测量系统。这种大功率、高度稳定的白光源支持精确测量薄膜厚度，即使是超薄薄膜也是如此。此外，光源的使用寿命为 10,000 小时，适用于在线操作。

L15077-C7 超连续谱光源是一款紧凑型激光光源，可发射由超短脉冲激光器引起的非线性光学现象产生的宽带近红外激光。 它具有激光的高方向性和高辉度以及灯光源的广谱性等特点。与其他公司的超连续谱光源相比，L15077-C7 的光输出稳定性更高，从而可在各种用途中提供准确的测量、分析和检测。

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-51》 ・波长：885 nm ・脉波宽度：70 ps ・峰值功率：100 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-49》 ・波长：445 nm ・脉波宽度：70 ps ・峰值功率：400 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-45》 ・波长：785 nm ・脉波宽度：100 ps ・峰值功率：70 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-43》 ・波长：655 nm ・脉波宽度：70 ps ・峰值功率：50 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-39》 ・波长：970 nm ・脉波宽度：80 ps ・峰值功率：400 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-37》 ・波长：510 nm ・脉波宽度：130 ps ・峰值功率：50 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-35》 ・波长：483 nm ・脉波宽度：80 ps ・峰值功率：150 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-33》 ・波长：465 nm ・脉波宽度：70 ps ・峰值功率：180 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-29》 ・波长：405 nm ・脉波宽度：60 ps ・峰值功率：400 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-27》 ・波长：375 nm ・脉波宽度：50 ps ・峰值功率：600 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-23》 ・波长：1550 nm ・脉波宽度：70 ps ・峰值功率：10 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。 《M10306-21》 ・波长：1310 nm ・脉波宽度：70 ps ・峰值功率：20 mW ・重复频率：100 MHz（最大值）

这是一种被动式 Q 开关短脉冲激光器，尽管具有紧凑的激光头，但其高能量输出可达 2 mJ。集成的激光谐振器实现了免维护的紧凑设计，无需对谐振器进行对准调整。